おはようございます。今日もまた真夏日です。朝から25度を超えてますョ。快晴の良いお天気です。こんな日にサクッとANTを直してしまいたい気分です。今日も朝一から首が回らぬ忙しさ故、叶いませぬ・・・・。今日は早速本題に移ります。

FT-857 IF-AMP の修理を終えたものの・・・

 待ちに待ったN ch Dual-Gate Mos FETが到着しました。そもそも、これがどの様な働きをするかと言いますと、IF最終段であると同時に、ALCと出力制御を兼ねています。N ch のMos FETのゲートが二つあるタイプで、No1. Gateに入力信号、No2.GateにALCが接続されます。本機のALCは5V時に最大電力となり、進行波を反転増幅させた信号を印加させることで、出力抑制しているのですが、この仕組みをパワー制御にも利用しています。即ち、No2.Gateの電位がゼロになると出力が完全に抑制されてしまいます。この個体の場合、どうやらNo2.Gate側に異常電圧が掛かかり焼損に至ったと見ていますが、その際に過電流プロテクション回路が一緒に壊れてしまっている様です。こちらは、動作電圧13.8Vの電源側と負荷側(大電流で電圧降下する現象を利用)の電位差をオペアンプで差動増幅させ、出力がI-ALCとしてIF AMPのNo2.Gateに接続されたNPNトランジスタのコレクタを短絡させる「オープンコレクタ」のベース・トリガーになっていて、ここが押されっぱなしでした。このオペアンプが逝かれたか、何らかの事情で入力抵抗値が僅かに変わってしまったものと思われます。因みにこの入力抵抗は誤差±0.1の精度が要求される箇所です。数ミリボルトの電位差でもI-ALCが動作してしまうということでしょう。

回路図指定の部品10数点が見当たらない・・

 さらに??な事象が・・。このI-ALC回路は送信時に電位が上がり過ぎないよう、デジタル・トランジスタのコレクタが短絡して電流をGNDに逃がす回路が付けられていますが、この個体はこれらの周辺部品がそっくり未装着です。仕様なのか、リビジョン上不要と判断したものかは不明です。これが無いと、今回の様な事象が発生してしまうという事なんだと理解しているのですが・・・。最初から付いていないものを取り付けるのもアレなので、このままにしますが、シリアルナンバーは初期ロッドであることを示しており、メインユニットに関しては明らかに初期ロッドの基板が入っていますので、もしかするとリージョナル・バージョンによって有無が異なるのかもしれません。そもそもI-ALCが必要なのか・・・疑問です。何故なら本機は進行波、反射波をプロセッサが監視しプロテクト動作しますので・・。取りあえず、TA75S01F(Q3001)を交換します。因みにI-ALCを短絡させたところ、IF-AMPが正常動作しました。“しか〜〜し”メインユニットの出力波形がえらく歪んでます。なんと・・メインユニットの最後段にあるP-Pの2SK2975の片方が逝ってました。VDCがゲートに漏れ出てきているではありませんか! トホホ 何となく見えてきました、どうやらIC DETが動作状態になったのは、ココで大電流が流れたのが原因でしょう。因みに、VR1001、VR1002が最大値に設定されてます。いったいダレがこんな事を・・・。あ〜〜嫌な予感が・・・。取りあえず、2SK2975の調達に走ってます。

Q3005 と周辺部品は??

まさかの未装着・・・

ここもアウト・・

早馬を飛ばし・・・ww

RJX-601 作業中

 すみません。FT-857の故障箇所が拡がってしまった関係で、少々作業が遅れてます。今日中に完了しますので少々お待ち下さい。

 

Tagged with →  

コメントを残す